报告题目：数据驱动的射频校准与测试方法
主讲嘉宾：全智教授 永利集团特聘教授
时间：2017年 5月11日（周四）下午4:00
地点：永利集团南区基础实验楼北座信息工程学院N710会议室
报告摘要:
Radio frequency (RF) calibration and test play an important role in massiveproduction of consumer electronics, such as laptops, smart phones, pads, drones,etc., to ensure high quality of wireless communications. There is a trade-offbetween test time and measurement accuracy in traditional RF testing methods.In this talk, we will introduce data-driven wireless RF calibration and testmethods that can adaptively adjust test strategies based on on-line measurement
data. The data-driven methods can greatly improve measurement accuracy while reducing test time. The improved product quality and reduced test time can save hundreds of millions of dollars per year in manufacturing of consumer electronics.
嘉宾简介:
全智博士，永利集团信息工程学院特聘教授，国家优秀青年科学基金获得者。1999年获北京邮电大学通信工程学士学位，2009年以最高荣誉“杰出博士奖”从美国加州大学洛杉矶分校（UCLA）获电子工程博士学位，2007－2008年间在美国普林斯顿大学做访问学者。在国际通信和信号处理领域学术期刊和会议发表论文30余篇，总引用超过2800次；其中关于认知无线电的开创性研究成果因解决一类非凸优化的理论难题在国际上产生重大影响，被世界同行广泛跟进研究（单篇论文迄今被引用1000多次），并荣获2012年度IEEE信号处理学会“最佳论文奖”。2008-2012年在美国高通公司研发部任高级系统工程师，主要研究面向未来物联网的低功耗远距离无线传输技术，其研究成果申请了30多项美国专利（已获授权15项），多项技术提案被IEEE 802.11标准委员会采纳成为下一代Wi-Fi通信标准。2012－2015年间在美国苹果公司硅谷总部担任资深射频系统工程师和架构师，主要负责iPhone的无线通信模块高精度校准与规模化量产测试，提出的高精度无线射频校准方法被应用到iPhone、iPad和MacBook的大规模量产中，每年为苹果公司节省数千万美元的生产成本。现兼任国际期刊《IEEE 信号处理汇刊》副主编，研究兴趣包括射频系统校准与测试、宽带远距离无线通信系统、数据驱动的信号处理、人工智能与机器学习等。
欢迎各位老师和同学参加。
